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Q-One納米級離子注入系統是一種具有納米級精度的確定性單離子注入的最新工具。這是一種全新的設計，功能強大的FIB，能夠以驚人的精度和前所的未有的速度定位單個離子。

紅外光晶圓鍵合檢測裝置，為了實現晶圓的可視化，需要一臺帶有USB端口和Windows 2000或更高版本的個人電腦。

使用芯片到芯片鍵合機，可以手動對齊兩個芯片。然后可以使芯片接觸，以進行陽極鍵合或各種膠合過程。單芯片對準級包括三個線性軸和三個旋轉軸，為大多數對準應用提供了足夠的自由度。

紅外晶圓檢測顯微鏡，硅片是集成電路（IC）和微機電系統（MEMS）制造中使用的重要部件。在紅外（IR）范圍內看穿這種半導體材料的能力有利于制造過程的質量控制。

單離子注入聚焦離子束測試設備 量子和納米級材料工程的先進平臺 Q-One™是先進的聚焦離子束平臺，用于先進的器件制造和納米級材料工程。Q-One具有確定性單離子注入功能，是第一臺專門為滿足量子研究的苛刻要求而設計的儀器。

飛行時間二次離子質譜測試設備，先進的動態TOF-SIMS系統，它使用直流主束的飛行時間分析儀，創建了成像質譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續數據采集（即沒有單獨的蝕刻周期），同時提供高空間和質量分辨率。 特點： 離子束帶來高分子量分析和高空間分辨率 四種離子束可選擇 用氣體團簇離子束SIMS，可以分析高達3000Da的分子量 無“僅蝕刻”循環的深度剖面。 快速、連續采集

球磨測厚儀-測試設備 控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時間，球型，X，Y直徑，自帶LED光源，目鏡小刻度為0.02mm，自動厚度校準，工作時間范圍：1-30min，球型：10，15，20，25，30mm，球磨速度可控：200-1000tr/min。

涂層附著力檢測儀-測試設備 1.快速簡易：壓痕并觀察壓痕效果 2.高性價比：寶石探針消耗低（劃痕儀的10倍使用壽命）