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控制器是專門為四點探針測量而設計的一種專用電子儀器。它具有精度高、范圍廣和許多簡化四點探測測量的特點。

氣氛可控開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。

單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。

薄膜電阻及厚度測試儀采用渦流檢測技術，可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測最終輸出結果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(Mhos/sq），厚度(單位：um）等。

表面光電壓譜系統為深入研究光敏感材料（例如有機半導體，太陽能電池或者光敏染料）提供一種一體化解決方案。

超高真空開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。

臺式拉曼光譜分析儀，集成了所需的關鍵元件，使所有技能水平的研究人員都能以易于操作和較好的靈敏度利用拉曼的力量。

多功能拉曼系統，內置標準燈和自動校準算法可確保保留初始測量設置。 測量結果的高再現性由雙頭旋轉編碼器保證，誤差小于0.003度，易于更換的光柵，內置硅樣品和引導光束。