科學級—開爾文探針：

許多材料的特性是由其表面決定的。最重要的表面性質之一是功函數。

科學級—開爾文探針可以精確測量不同半導體和導電材料的功函數，具有較高的精度和準確性。

非接觸測量涉及振蕩電容，其中一個電極為試樣，另一個電極為金柵極振蕩參比電極。因此，測量值參考金的功函數(5.1 eV)。測量分辨率可達0.1 meV， 集成時間足夠長。開爾文探針可用于各種類型的表面研究，包括:腐蝕，吸附/解吸，表面充電，催化活性等。

為方便使用，探頭配有激光筆和數碼顯微鏡。電動垂直定位系統允許在與標本表面相同距離的參考電極的重現(精度為10 um)。X-Y定位可以作為一個選項安裝。該系統還配有寬帶光導，可與數控單色儀和高壓氙弧燈聯合使用。波長范圍從300到1000 nm可用于連續或脈沖樣品照明。

該配置允許測量表面的工作功能和電荷，表面光電壓光譜和其他光物理技術，光電壓分辨率優于5 mV(當應用較長的集成時間時為    0.1mV)。整個系統采用接地法拉第籠，以減少電噪聲和雜散光的影響。這種表面光電壓譜儀是研究光催化劑、有機和無機半導體、    太陽能電池和其他光活性材料和器件的必要工具。

借助該開爾文探針/表面光電壓光譜儀，實時監測半導體的光腐蝕、光解吸和光催化反應也成為可能。

設計 

  該裝置由安裝在固定支架上的擺動金探頭、z軸電動工作臺、電子控制單元和法拉第籠組成。

  樣品放置在手動或電動xy臺上，移動范圍為任意方向1.5 cm。

  探頭被連接到一個z級，可以把它放在離樣品需要的距離上。

  一個紅色的激光指示器顯示在測量過程中探針會振蕩的地方。

 在系統被法拉第籠覆蓋時，USB顯微鏡和白色LED這時可以起到  很好的作用。

 光通過液體波導或光纖傳輸到樣品中，因此消除了光源可能產生的電磁干擾。

 在閑置運行或存儲期間，脆弱的金探針歸到一個受保護的空間，以防止意外損壞。

 該系統還配有自動樣品高度傳感器。

 探頭是由我司設計和制造的組件。它提供了：

 即使在樣品上方0.5 mm的距離也可以有很大的信號，因此樣品表面是否粗糙或拋光并不重要。

 可以讓光線通過的透明度。通過這種方法，樣品可以被垂直的光束照亮。

 振蕩是由電磁鐵產生的。

  整個探測器都覆蓋著法拉第籠，使其不受外界環境的影響。

規格